10㎛ 단위의 미세한 균열까지 찾아내는 섬세함

하 상 범 기자

광전자정밀의 OPI-540 태양광 모듈 STRING 검사장비는 EL Tester를 통해 태양광 모듈의 미세한 균열을 찾게 되는데 10㎛ 단위의 극도로 미세한 수준까지 검사해 문제여부를 파악할 수 있으며 문제가 발생한 단락의 위치도 검출할 수 있다. 

태양전지 모듈의 효율 검사시에는 Cell/String 간 효율 균일도와 단락전류 균일도를 검사하게 되는데, 이때 영역을 자유롭게 지정할 수 있다. 스트링 미세 결합과 단위 셀 미세 결합도 인식할 수 있다. 

OPI-540의 EL Tester의 분해능 범위는 1,312×1,082픽셀이며, 암전류는 0.65fA/픽셀, 분광범위는 370~1000㎚, 노출시간은 10㎳~1.6s이며, 프레임 비는 5fps이다.

효율검사시 AM 1.5 스펙트럼 합치도는 25% 이내이며, 조사균일도와 시간 안정도가 2% 이내, 시료위치 조사강도는 100mW/㎠, 유효 조사면적은 1.5×1.5m이다. I-V 특성 검사시 전류 및 전압의 범위는 30V·20A이며, 측정 분해능 범위는 0.1㎷·0.1㎃ 이하다. 

광전자정밀은 LED 및 OLED, PD, LD, 태양전지 등 광소자와 광소자모듈 디스플레이 일반광원 등의 다양한 특성을 측정하는 장비 전문기업이다. 현재 30여가지 장비를 제조, 판매하고 있으며, 특히 LED 측정분야의 국내 기술을 선도하는 업체 중 하나로 기계, 전자, 광학, 소프트웨어에 대한 숙련된 노하우와 제품화 능력을 기반으로 광 및 반도체 소자 계측분야에서 고객만족을 실현해오고 있다.

광전자정밀 제품은 국내 대기업체는 물론, 연구기관 등에 납품돼 관련 엔지니어의 호평을 받고 있다. 광전자정밀은 매년 국내외 전시회 참가를 통해 고객의 의견을 수렴하고 신제품을 출시하고 있다.

SOLAR TODAY 하 상 범 기자 (st@infothe.com)

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